Caracterización Superficial de Muestras por Microscopia de Barrido Electrónico (SEM)
Resumen:
- El servicio comprende la microscopia por barrido electrónico (SEM) permitiendo resolución nanometrica. La técnica puede ser usada directamente en superficies conductoras y con menor resolución en modo de bajo vacio. Por otra parte, las superficies pueden convertirse en conductoras por deposición de C o metales.
Facultad:
- Facultad de Ciencias Exactas, Físico-Químicas y Naturales
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